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  • 产品名称：OTSUKA大塚電子膜厚监测仪FE-300内藤代理

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚電子
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简单介绍：
这是一款小型、低成本的膜厚测量仪，可通过高精度光学干涉测量法实现易于操作的膜厚测量。 我们采用一体式外壳，将必要的设备存储在主机中，实现了稳定的数据采集。 虽然价格便宜，但可以通过获取**反射率来分析光学常数。 销售中心-重庆内藤naitokikai
详情介绍：

产品信息

特征
  • 支持从薄到厚的广泛薄膜厚度
  • 使用反射光谱的膜厚度分析
  • 紧凑、低成本、非接触、无损、高精度测量
  • 简单的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度
  • 使用峰谷法、频率分析法、非线性*小二乘法、*优化法等，可以进行广泛的膜厚测量。
  • 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）可以通过非线性*小二乘法的膜厚分析算法进行。

 

测量项目
  • **反射率测量
  • 薄膜厚度分析（10层）
  • 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）

 

测量对象
  • 功能性薄膜、塑料
    透明导电薄膜（ITO、银纳米线）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、胶粘剂、粘合剂、保护膜、hard Coat、抗指纹代理等
  • 半导体
    化合物半导体、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。
  • 表面处理
    DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。
  • 光学材料
    滤光片、增透膜等
  • FPD
    LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机薄膜、密封胶）等
  • 其他
    HDD、磁带、建材等

规格

规格
测量波长范围 300-800nm
测量膜厚范围
（SiO 2换算） 		3纳米至35微米
光斑直径 φ1.2mm
样本量 φ200×5(H)mm
测量时间 0.1至10秒内
电源 AC100V±10% 300VA
尺寸、重量 280（宽）x 570（深）x 350（高）毫米，24 公斤
其他的 参考盘、菜谱制作服务

 

 

软件画面

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