产品详情
  • 产品名称:OTSUKA大塚電子zeta电位粒径分子量分析

  • 产品型号:ELSZ-2000系列
  • 产品厂商:OTSUKA大塚電子
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简单介绍:
除了现有的zeta电位和粒径测量外,还新增了分子量分析功能。(粒径:0.6nm-10um/浓度范围:0.00001%-40%)。 电渗透测量可使用微量 (130ul) 一次性电池对 zeta 电位进行高精度分析。 此外,新的自动温度梯度功能具有 0 至 90℃ 的扩展范围,使熔点和相变点分析成为可能。
详情介绍:
特征
  • 新的 APD 具有更高的灵敏度和更短的测量时间。
  • 通过自动温度梯度功能实现熔点和相变点分析。
  • 0~90℃宽温度范围。
  • 宽范围分子量分析。
  • 支持浓缩样品测量。
  • 得益于电渗透测量和绘图分析,高精度 zeta 电位分析。
  • 支持盐浓缩样品的zeta电位测量。
  • 较小面积样品的表面 zeta 电位。
测量项目
Zeta 电位 无有效限制
机动性 -20×10 -4~ 20×10 -4 cm 2 /V·s
粒径 0.6纳米~10000纳米
分子量 360 ~ 2000×10 4

●测量范围

温度 0~90℃
专注 粒径: 0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 % *1
Zeta 电位: 0.001%~40%

*1(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、牛磺胆酸: ~ 40%)

 

应用

*适用于表面化学、无机、半导体、聚合物、生物技术、制药和医疗等领域的粒子表征基础和应用研究,以及薄膜和平面状态样品的表面研究。

  • 新功能材料
    燃料电池(碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属)
    生物纳米技术(纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS)、纳米气泡
     
  • 陶瓷与涂料
    陶瓷(二氧化硅、氧化铝、二氧化钛无机
    溶胶的表面改性剂、分散与凝聚
    炭黑与有机颜料的分散与凝聚 浆
    态样品
    滤色片
    浮选吸附研究

  • Semiconductor
    Alien objects research on silicon wafer
    磨料/添加剂对硅片表面
    CMP浆料的相互作用研究
     
  • 聚合物与化工
    乳液分散与凝聚
    乳胶表面改性剂 聚电解质
    功能研究
    造纸过程控制与纸浆助剂研究
     
  • 制药和食品
    乳液分散和凝聚
    脂质体和囊泡的分散/凝聚控制 表面活性
    剂(胶束)的功能

规格

 

原则 粒径 动态光散射法
Zeta 电位 激光多普勒法
分子量 静态光散射法
光学 粒径 零差系统
Zeta 电位 外差系统
分子量 零差系统
光源 高功率半导体激光器
探测器 高灵敏度 APD
细胞 Zeta 电位:标准池、微量一次性池、
高浓度。细胞
粒径/分子量 : 矩形池
温度 0 ~ 90℃ (带梯度功能)
电源要求 100V±10% 250VA
尺码(WDH) 380(W)×600(D)×210(H)mm
重量 约 22公斤
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