OTSUKA大塚電子粒径和Zeta测量内藤代理带自动进样器 AS50 的多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA 重庆内藤机械设备有限公司

主营产品:

光学仪器、光学材料、实验仪器、手动工具、焊接工具、焊接材料、仪器仪表、静电设备、静电辅料、工业器材、气动元件、电工电气、测量工具、计量设备、气动工具、电动工具、化工设备、化工辅料、点胶设备、小型设备、储存设备、物流设备、工业安防、**防护、包装材料、切削工具、切削材料、办公设备、办公文具、工装夹具、测试治具、机械加工。设备等。

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产品名称：OTSUKA大塚電子粒径和Zeta测量内藤代理
产品型号：带自动进样器 AS50 的多样品纳米粒径测量系统 nanoSAQLA
产品厂商：OTSUKA大塚電子
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简单介绍：

这是使用“动态光散射法”（DLS 法）的粒径测量系统（粒径 0.6 nm - 10 μm）。包括各种功能以进一步改进质量控制。它测量速度快（约 1 分钟），重量轻且紧凑，这是实验室使用必不可少的，而且这种新的光学系统能够一次测量多个样品，浓度范围从稀释到浓缩。此外，它是一种不浸入液体的新产品（非浸入型），因此污染不是问题，在不使用自动进样器的情况下*多可以连续测量 5 个样品。销售中心-重庆内藤naitokikai

详情介绍：

特征

■nanoSAQLA的特点

简单快速的一次性设置，*多可设置 5 个不同条件下的样品。
测量稀释和高度浓缩的样品
在大约 1 分钟内进行测量 +
包括温度梯度功能
无污染连续测量

■AS50的特点

*多连续 50 个样品
添加样本作为度量
轻松放置样品
一次更换多达 50 个样品
用于有机溶剂（玻璃一次性池）
样本量 0.4 毫升 ~

测量范围（理论值）

粒径范围 0.6 nm-10 μm
适用浓度范围 0.00001-40 ％
温度范围0-90℃

规格

模型	多样品纳米粒径测量系统
原则	动态光散射法
光源	高功率半导体激光器^*1
探测器	高度敏感的APD
连续测量	*多 5 个样品
测量范围	0.6 纳米 - 10 微米
对应浓度	0.00001 - 40 % ^*2
温度	0 - 90℃ （带梯度功能）^*3
尺寸	240(W) X 480(D) X 375(H) 毫米
重量	18公斤
软件	平均粒径分析（累积量法）
	粒度分布分析（Marquardt算法/NNLS/Contin算法/Unimodal算法）
	粒度分布重叠
	反相关函数/残差图
	粒度图
	显示粒径范围（0.1 - 10 ⁶ nm）
	计算分子量的函数
选项	微量池（样品 20 μL 及以上），带通滤波器

*1 根据 JIS C 6802激光**标准，本产品属于 1 类产品
*2 PS Latex Particle:0.00001 - 10 % Taurocholic acid：-40 %
*3 在 batch cell holder 中使用玻璃比色皿
时在连续测量 cell holder 或一次性电池 15 - 40℃

模型	自动进样器 AS50
粒径范围	3纳米～10微米
浓度范围	0.001～40%
温度范围	15～40℃
连续测量	*多 50 个样品
样品量	0.4纳米～0.6毫升
尺寸	240(W) X 480(D) X 275(H) mm (nanoSAQLA+AS50:480(W) X 480(D) X 375(H) mm)
重量	12公斤（纳米SAQLA+AS50：30公斤）