日本OTSUKA大塚電子西南片区重庆代理 RETS-100nx 重庆内藤机械设备有限公司

主营产品:

光学仪器、光学材料、实验仪器、手动工具、焊接工具、焊接材料、仪器仪表、静电设备、静电辅料、工业器材、气动元件、电工电气、测量工具、计量设备、气动工具、电动工具、化工设备、化工辅料、点胶设备、小型设备、储存设备、物流设备、工业安防、**防护、包装材料、切削工具、切削材料、办公设备、办公文具、工装夹具、测试治具、机械加工。设备等。

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产品名称：日本OTSUKA大塚電子西南片区重庆代理
产品型号：RETS-100nx
产品厂商：OTSUKA大塚電子
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简单介绍：

OLED用偏光板、叠层相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光板等各种薄膜的相位差测量装置。实现与超高 Re.60000nm 对应的高速、高精度测量。可以“不剥离而非破坏性”地测量薄膜的层压状态。此外，它配备了易于操作的软件和校正功能，可以响应由于重新定位样品而导致的未对准，从而实现简单和高精度的测量。销售中心-重庆内藤naitokikai

详情介绍：

产品信息

特征

只有独特的光谱仪才能实现高精度测量

■ 高精度

通过多波长测量实现高精度
λ/4和λ/2等在短波长下难以测量的结果，可以用近似值得到。不受薄膜厚度干涉波形的影响，可以获得结果。
<高精度的原因> 　　　・使用原始的
高性能多通道光谱仪　　　　信息约500个波长，是其他公司产品的约50倍）

■ 测量范围广（延迟范围：0～60000nm）

■ 测量范围广即使强度相同，也可以从其他波长数据计算出来。

■ 可以理解延迟波长色散形状

■ 可以了解延迟波长色散形状，也可以测量反向色散样品。

超高延迟测量 -超双折射薄膜的高速、高精度测量-

■ 高延迟
■ 高延迟测量即使具有如此高的延迟，也可以使用无参数的独特算法对其进行分析。
兼容超高Re.60000nm

多层测量 -各种薄膜层压条件无剥离的无损测量-

多层测量无需剥离，直接测量即可

轴角校正功能 -即使样品未对准，您也可以轻松测量并具有良好的再现性-

■ 重新定位样品 10 次并比较有无角度校正的结果
[样品：延迟膜 R85]

重新定位样品 10 次，比较有无角度校正的结果无校正：重新定位引起的变化：0.13 有校正：重新定位引起的变化：0.013 或更小

简单的软件-测量时间和处理时间大大减少。大大提高了可操作性

简单的软件所有操作都可以在一个屏幕上完成！

规格

模型	延迟测量装置 RETS-100nx
测量项目（薄膜、光学材料）	延迟（波长色散）、慢轴、Rth ^1、3D 折射率^1等。
测量项目（偏光板）	吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等。
测量项目（液晶盒）	Cell gap、pretilt angle ^*1、twist angle、orientation angle等
延迟测量范围	0 至 60,000 纳米
延迟重复性	3σ≤0.08nm（石英波片约600nm）
电池间隙测量范围	0～600μm（Δn=0.1时）
细胞间隙重复性	3σ≦0.005μm（当cell gap为3μm左右，Δn=0.1时）
轴检测重复性	3σ≤0.08°（石英波片约600nm）
测量波长范围	400 ~ 800nm（其他选择可能）
探测器	多通道光谱仪
测量直径	φ2mm（标准规格）
光源	100W卤素灯
数据处理部分	个人电脑、显示器
舞台尺寸：标准	100mm × 100mm（固定载物台）
选项	・超高延迟测量・多层测量・轴角校正功能・自动XY平台・自动倾斜旋转平台

*1 需要自动倾斜旋转台（可选）

产品名称：日本OTSUKA大塚電子西南片区重庆代理

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