产品详情
  • 产品名称:日本SIMCO思美高除静电离子发生器4214

  • 产品型号:
  • 产品厂商:日本SIMCO
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简单介绍:
4214 型离子发生器即使在高纯度 N2 环境下也支持“扩展 ISO 1 级,10nm”的高清洁度,并实现出色的离子平衡。
详情介绍:

特征

超低颗粒负载 采用单晶硅电极。
独特的不向外界释放颗粒的清洁机制,确保长期稳定的清洁度
采用智能控制电路,无需任何调节
内置传感器持续监控离子产生,实现可靠的静电消除
控制器,电源 内置集成紧凑型设计
自动高压关断功能可在低流量时保护产品
非常适合先进的半导体制造工艺和其他超低颗粒应用
 24V 直流驱动

规格

输入电压 24V DC+/-5% 6W(典型值)
离子平衡 <+/-25V 150mm 距离 40LPM 无管道连接
静电消除时间 <10sec 150mm 距离 40LPM 无管道连接
+/-1kv → +/- 100v 通过充电板监视器
离子发生方式 电晕放电型 高频交流型
清洁度 ISO Class1,0.1 微米
“扩展 ISO Class1,10nm”*
电极 单晶硅可替代
兼容的吹扫气体 氮气 > 99.998%
流量 40LPM(36.5Kpa)~90LPM(171kpa)
*大吹扫压力 207Kpa(=100LPM流量)
*高气体温度 60℃
N2 吹扫连接 Swagelok3/8" 外径管道
电离 N2 连接
世伟洛克 1/2"OD 管道连接,带 1/4NPT 内螺纹连接器或可选接头28-25710-SC
工作温度限制 15~60℃
信号输出 开/关触点报警和离子滴输出
尺寸 长152.4mm x 宽72.4mm x 深32mm
(不包括管道)
重量 640克
外部的 不锈钢
安装方法 背面M5螺丝 螺丝长度必须小于10mm
扩展的 ISO 1 级 10nm
是 ION Systems 独立确定的清洁度定义,以支持微小颗粒管理。ISO14644-1定义*小粒径为100nm。扩展ISO Class 1,10nm采用与ISO14644-1相同的计算允许颗粒数的公式,对于直径10nm以上的颗粒,允许颗粒数为1200pc/m3(34 pc/ft3)。
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