AxoScan™

穆勒矩阵旋光仪

AxoScan 在 30 毫秒内同时测量样品所有可能的偏振特性。范围广泛的特定应用分析软件为几乎所有与偏振相关的设备或行业提供易于理解的数据。

概述

AxoScan 是行业**的样品偏振特性测量系统。凭借其****的速度、精度和准确度，AxoScan 在全球范围内被偏光膜、延迟膜和液晶显示器制造商以及这些产品的许多*终用户所采用。

AxoScan 测量 所有可能的偏振特性 （完整的 Mueller 矩阵）并在仅30 毫秒内报告样品的所有关键偏振参数（偏振器特性、延迟器特性、去偏振特性）  。

测量是在一个位置进行的，通常是在直径为 1.5 毫米或 3 毫米的光束中。如果需要测量非常小的特征，请考虑使用 AxoStep 成像旋光仪。

“穆勒矩阵”的优势

与仅测量特定偏振参数子集的“部分”或“不完整”旋光仪不同，AxoScan 和 AxoStep 均测量完整的 Mueller 矩阵。Mueller 矩阵的 16 个元素包含样品所有可能的偏振特性。这在您的真实样本不符合测量系统做出的假设的情况下非常重要。
例如，如果任何层之间没有完全对齐，则测量堆叠的延迟器层将产生“椭圆延迟”。设计用于测量“线性延迟”或“双折射”的系统将无法看到这种未对准的影响，并会给出错误的结果。但是穆勒矩阵是骗不了的，
我们易于使用的软件会自动将穆勒矩阵转换为有意义的透射率、偏振器特性（衰减和偏振）、延迟和去偏振参数。Axometrics 还为众多行业提供范围广泛的专用软件。

OPMF - 平面外测量夹具

OPMF-1 在世界各地的研发和 QC 实验室中使用，是 AxoScan *常用的安装夹具。OPMF 自动倾斜和旋转样品以测量作为视场函数的偏振特性。在多个入射角下进行测量对于许多应用来说至关重要：

• 用于视野 (FOV) 分析的极角和方位角图
• 行业标准面外延迟参数（R0、Rth 和 Beta）
• 透射样品的相对 3D 折射率椭圆
• 液晶 (LC) 显示器和薄膜的预倾斜测量
• 垂直排列 LC 的池间隙测量

OPMF-1倾角（极角）范围为-55°至+55°，旋转角（方位角）连续0°至360°

OPMF-2 将*大倾斜角扩展到 75°。这种扩展的倾斜范围通常在视野研究的研发应用中很有用。

XY200 - 电动XY扫描台

XY200 夹具自动执行*大 200 平方毫米样品的 XY 图，并包括用于分析测量偏振特性图的软件。随附的 XYViewer 软件具有以下功能：

• 统计分析样本的分布
• 截面图
• 屏蔽超出范围的像素
• 数据导出到电子表格
• 用于质量控制的通过/不通过应用程序的分箱颜色表的用户设置

VRTF - 传输和反射夹具

VRTF-1 可以在传输和反射模式之间自动重新配置，从而实现非常广泛的应用。反射的倾角可以从 10° 到 90°，透射的倾角可以从 -55° 到 55°。MSRS 选项提供样品的完整 360° 旋转，可选的 XY50 载物台允许区域的 XY 图*大为 50 mm x 50 mm。

VRTF 是我们*灵活的夹具，可广泛用于偏光测量和椭圆偏光测量：

• 用于视野 (FOV) 分析的极角和方位角图
• 行业标准面外延迟参数（R0、Rth 和 Beta）
• 透射样品的相对 3D 折射率椭圆
• 液晶 (LC) 显示器和薄膜的预倾斜测量
• 垂直排列 LC 的池间隙测量
• XY 地图和横截面线扫描高达 50 毫米的透射或反射
• 折射率测量
• 薄膜厚度测量
• LCOS 和反射式显示器测试

FSVM - 独立式垂直安装

FSVM 是一种简单的安装夹具，用于测量垂直入射传输中的样品。该夹具包括一个可调节的参考边缘，用于重复设置样品方向。

OBHM  - 光学工作台水平安装座

光学工作台水平安装架适用于希望将 AxoScan 安装在光学工作台上的研究人员。这为许多研发应用提供了*大的灵活性。

应用

由于 Mueller 矩阵包含样品所有可能的偏振特性，因此 AxoScan 应用程序太多无法一一列举。下面的列表重点介绍了一些*常见的应用程序，但请务必访问我们的应用程序页面以获取更多信息。
如果您没有看到您的应用列出，请随时联系我们讨论您的测量要求。如果测量涉及极化，我们可能已经帮助某人进行了类似的测量。
偏光片特性
准确测量偏光片的偏光轴角和偏光效率（衰减幅度）。确定输出状态是线性、圆形还是介于两者之间的某种椭圆状态。还要判断输入输出状态是否相同。在一些应用中，延迟膜被层压到偏振膜上以进行视场补偿或用于制造圆偏振器。我们的多层分析软件可用于确定各个层的属性。
缓凝剂性能
准确测量减速器快轴角度和减速幅度。还要确定传播*快的状态是线性、圆形（旋光）还是椭圆形。测量延迟作为倾斜角的函数可以计算面外延迟 (Rth) 和指示线倾斜角 (β)，并表征 c 板。
液晶参数测试
同时测量液晶任意模式的盒隙、上下配向方向、扭转角、上下预倾角。测量可应用于测试电池、商业面板或聚合薄膜。
广义椭圆偏光
测量反射样品可为计算薄膜的折射率和厚度提供必要的数据（ψ 和 Δ）。因为 AxoScan 测量整个 Mueller 矩阵，所以测量不限于各向同性薄膜。可以毫无困难地测量单轴和双轴各向异性薄膜和基材。
应力诱导双折射
AxoScan 可以准确测量低于 0.1 nm 的延迟水平。测量样品的延迟和快轴方向的 XY 图揭示了应力诱导的双折射模式。AxoScan 广泛用于测试注塑塑料光学器件和厚玻璃光学器件以揭示这种现象。
生物样本
对齐的胶原纤维会产生显着水平的线性延迟。AxoScan 用于选择用于制造心脏瓣膜的组织，以确保纤维对齐与瓣膜几何形状正确对齐。
反射装置
VRTF 夹具允许在透射或反射中测试样品。AxoScan 广泛用于测试反射器件，例如 LCOS 成像器、半透半反 LCD 面板、胆甾型滤光片和光回收膜。
偏振光线追踪
Mueller 矩阵的一大优势是它能够用于偏振光线追踪模拟。使用复杂样本的测量 Mueller 矩阵，可以预测该样本将如何改变任何输入偏振态。例如，我们的软件可以预测样品放置在任意两个线性、椭圆或圆偏振器之间时的样子。我们的测量数据文件可以导入到多个第三方镜头设计、偏振光线追踪和液晶设计软件包中。

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