产品详情
  • 产品名称:基恩士KEYENCE中国重庆 重庆内藤

  • 产品型号:分光干涉式激光位移计
  • 产品厂商:基恩士KEYENCE
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简单介绍:
分光干涉位移型多层膜厚测量仪 微型传感头型分光干涉式 激光位移计
详情介绍:

分光干涉式激光位移计

产品阵容

分光干涉位移型多层膜厚测量仪SI-T 系列

实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。

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产品特性

粘附层也可以稳定测量

借助 KEYENCE配备的光量累计功能,
类似粘附层等粗糙的表面,也可以实现稳定测量。

实现广范围测量

在拉伸制程等过程中,可以应用于上游至下游的各种场所。

微型传感头型分光干涉式 激光位移计SI-F 系列

业界超细微型传感器头,超高精度,无一般传感器的发热问题,也不受电磁噪声影响。

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分光干涉式晶片厚度计SI-F80R 系列

采用近红外 SLD,即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异,也可实现准确的生产线上测量。

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