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概述
AxoStep 是业界首款穆勒矩阵成像显微镜。这是一款突破性的偏振测试仪器,基于 AxoScan 行业**的原理,能够在短短 14 秒内测量图像中每个像素的所有可能的偏振特性(完整的穆勒矩阵)
与典型的延迟或双折射成像系统不同,AxoStep 同时测量所有透射率、偏振器、延迟器和去偏振特性。圆偏振器、椭圆延迟器和旋光度不会导致系统进行不正确的测量。
AxoStep Mueller Matrix 成像显微镜系统可以执行横向分辨率小于 1 um 的偏振计量,这比*先进的微点非成像系统小 50 倍。单个 UHD 多域 LCD 像素的子域。
Axostep 系统使用各种光学附件,允许用户实时查看样品的显微图像,当与 Axometrics 的**分析属性结合使用时,测量 LCD 单元间隙和预倾斜等属性以及薄膜厚度。和 AxoScan 一样,AxoStep 还包括各种可用的桌面、大型和生产测量夹具。
因为 AxoStep 可以实时查看样品,我们可以使用**模式识别软件自动查找和测量特定的样本上的特征。
应用
使用 AxoStep 成像系统进一步扩展了 Mueller 矩阵提供的独特测量功能。使用成像旋光仪开辟了许多使用非成像系统无法实现的其他应用。
像素间 LCD 测量
AxoStep 打开了测量 LCD 面板中单个像素内部光学特性的大门。没有其他测量系统可以比得上这种独特的能力。这种能力包括:
- LCD Panels (cell gap, pre-tilt, alignment direction, pre-tilt)
- 单个像素内的变化
- 多域像素设计的预倾斜测量
- 激光修复造成的损坏
- LCD 面板边缘、角落和“缺口”附近像素的单元间隙变化
图案阵列
- 应用于 CCD / CMOS 阵列的图案化偏振器和延迟器
- 几何相位透镜和涡旋延迟器
玻璃和塑料微光学
AxoStep 可用于**表征小型光学器件的表面特性和内部应力。这在测试手机相机和增强现实投影仪中使用的镜头时特别有用。
3D显示组件
AxoStep 系统特别适合对 3D 显示器中使用的光学元件进行详细测量,包括:
- 自动立体透镜阵列
- 图案化波片和偏光片
- 薄膜图案化延迟器 (FPR) 和 FPR 偏振器
定量偏光显微镜
偏光显微镜被广泛用于帮助可视化显微样品中的透明物体。然而,在某些情况下,需要进行定量测量才能准确确定样品的关键参数。AxoStep 同时测量样品的所有偏振特性,以实现高精度:
- 延迟(双折射)和方向
- 光学活性(圆形延迟)
- 线性二色性
- 圆二色性
- 去极化
规格
MMIP-VIS | |
---|---|
设计 | 双旋转缓速器 |
探测器类型 | CMOS 相机(10 位) |
*大分辨率 | 1320x1024 |
传感器尺寸 | 7.87 毫米(对角线) |
测量时间 | 14秒 |
波长范围 | 450nm-650nm |
可用物镜 | 2X、5X、10X、20X、50X、100X |