产品名称：美国AXOmetrics穆勒矩阵旋光仪偏振测试naitokikai

概述

AxoStep 是业界首款 Mueller Matrix 成像显微镜。一种突破性的偏振测试仪器，基于 AxoScan 的行业中的原理，能够在短短 14 秒内测量图像中每个像素的所有可能的偏振特性（完整的穆勒矩阵）。

与典型的延迟或双折射成像系统不同，AxoStep 同时测量所有透射率、偏振器、延迟器和去偏振特性。圆偏振器、椭圆延迟器和光学旋转不会导致系统进行不正确的测量。

AxoStep Mueller Matrix 成像显微镜系统可以执行偏振计量，横向分辨率小于 1 um，甚至比*先进的微点非成像系统小 50 倍。这种级别的分辨率使我们能够测量以前无法表征的样品的光学特性，例如单个 UHD 多域 LCD 像素子域中的预倾斜。

Axostep 系统使用各种光学附件，允许用户实时查看样品的显微图像，当与 Axometrics 的**分析属性结合使用时，测量 LCD 单元间隙和预倾斜等属性以及薄膜厚度。与 AxoScan 一样，AxoStep 还包括各种可用的桌面、大型和生产测量夹具。

由于 AxoStep 可以实时查看样本，我们可以使用**模式识别软件自动查找和测量样本上的特定特征。

应用

使用 AxoStep 成像系统进一步扩展了 Mueller 矩阵提供的独特测量功能。成像旋光仪的使用开辟了许多使用非成像系统无法实现的附加应用。例如

像素间 LCD 测量

AxoStep 打开了测量 LCD 面板中单个像素内部光学特性的大门。没有其他测量系统可以与这种独特的能力相匹敌。这种能力包括：

• LCD Panels (cell gap, pre-tilt, alignment direction, pre-tilt)
• 单个像素内的变化
• 多域像素设计的预倾斜测量 
• 激光修复造成的损坏
• LCD 面板边缘、角落和“缺口”附近像素的单元间隙变化

图案阵列

• 应用于 CCD / CMOS 阵列的图案化偏振器和延迟器
• 几何相位透镜和涡旋延迟器

玻璃和塑料微光学

AxoStep 可用于**表征小型光学器件的表面特性和内部应力。这在测试手机相机和增强现实投影仪中使用的镜头时特别有用。

3D显示组件 

AxoStep 系统特别适合对 3D 显示器中使用的光学元件进行详细测量，包括：

• 自动立体透镜阵列
• 图案化波片和偏光片
• 薄膜图案化延迟器 (FPR) 和 FPR 偏振器

定量偏光显微镜

偏光显微镜被广泛用于帮助可视化显微样品中的透明物体。然而，在某些情况下，需要进行定量测量才能准确确定样品的关键参数。AxoStep 同时高精度测量样品的所有偏振特性：

• 延迟（双折射）和方向
• 光学活性（圆形延迟）
• 线性二色性（线性衰减）
• 圆二色性（圆二色性）
• 去极化

规格