AxoStep™

穆勒矩阵成像旋光仪

概述

AxoStep 是业界首款 Mueller Matrix 成像显微镜。一种突破性的偏振测试仪器，基于 AxoScan 的行业中名列前茅的原理，能够在短短 14 秒内测量图像中每个像素的所有可能的偏振特性（完整的穆勒矩阵）。

与典型的延迟或双折射成像系统不同，AxoStep 同时测量所有透射率、偏振器、延迟器和去偏振特性。圆偏振器、椭圆延迟器和光学旋转不会导致系统进行不正确的测量。

AxoStep Mueller Matrix 成像显微镜系统可以执行偏振计量，横向分辨率小于 1 um，甚至比世界上极先进的微点非成像系统小 50 倍。这种级别的分辨率使我们能够测量以前无法表征的样品的光学特性，例如单个 UHD 多域 LCD 像素子域中的预倾斜。

Axostep 系统使用各种光学附件，允许用户实时查看样品的显微图像，当与 Axometrics 的突出的分析属性结合使用时，测量 LCD 单元间隙和预倾斜等属性以及薄膜厚度。与 AxoScan 一样，AxoStep 还包括各种可用的桌面、大型和生产测量夹具。

由于 AxoStep 可以实时查看样本，我们可以使用相应模式识别软件自动查找和测量样本上的特定特征。

应用

使用 AxoStep 成像系统进一步扩展了 Mueller 矩阵提供的独特测量功能。成像旋光仪的使用开辟了许多使用非成像系统无法实现的附加应用。例如

像素间 LCD 测量

AxoStep 打开了测量 LCD 面板中单个像素内部光学特性的大门。没有其他测量系统可以与这种独特的能力相匹敌。这种能力包括：

• LCD Panels (cell gap, pre-tilt, alignment direction, pre-tilt)
• 单个像素内的变化
• 多域像素设计的预倾斜测量 
• 激光修复造成的损坏
• LCD 面板边缘、角落和“缺口”附近像素的单元间隙变化

图案阵列

• 应用于 CCD / CMOS 阵列的图案化偏振器和延迟器
• 几何相位透镜和涡旋延迟器

玻璃和塑料微光学

AxoStep 可用于详细、周至的表征小型光学器件的表面特性和内部应力。这在测试手机相机和增强现实投影仪中使用的镜头时特别有用。

3D显示组件 

AxoStep 系统特别适合对 3D 显示器中使用的光学元件进行详细测量，包括：

• 自动立体透镜阵列
• 图案化波片和偏光片
• 薄膜图案化延迟器 (FPR) 和 FPR 偏振器

定量偏光显微镜

偏光显微镜被广泛用于帮助可视化显微样品中的透明物体。然而，在某些情况下，需要进行定量测量才能准确确定样品的关键参数。AxoStep 同时高精度测量样品的所有偏振特性：

• 延迟（双折射）和方向
• 光学活性（圆形延迟）
• 线性二色性（线性衰减）
• 圆二色性（圆二色性）
• 去极化

naitokikai-重庆内藤